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產品詳細頁

X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)

簡要描述:X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)Thick800D:是天瑞集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。

  • 產品型號:Thick800D
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:5258

產品介紹

 

X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)技術指標

型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
一次可同時分析zui多24個元素,五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm,zui薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內每種材料有所不同
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩定性可達0.1%
度適應范圍為1530
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
儀器尺寸:534(W) x 480 (D) x525(H) mm
重量:80 kG

 

標準配置:
高低壓電源(美國Spellman進口
大功率X光管(英國Oxford牛津進口)
電制冷半導體探測器(美國AMPTEK進口
多道分析器(美國進口
控制電路
高壓單元
移動樣品臺
高清晰CCD
準直器:含Ф8.0mmФ6.0mmФ2.0mmФ1.0mmФ0.5mmФ0.2mm各一個
濾光片:5組濾光片
計算機:品牌商務電腦(內存2G、硬盤200G),17寸液晶顯示器
打印機:彩色噴墨打印機

 

應用范圍:

RoHS檢測分析
地礦與合金銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分等)成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

 

 

 

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